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SUPER MAPPER PLUS (SMC+)近視防控鏡片光學分析儀基于Rotlex專有的摩爾偏折技術，利用波前透射方式獲得整個測量區(qū)域內多達2500萬個點的屈光度，從而獲得鏡片的各種屈光細節(jié)。 SMC具有測量動態(tài)范圍廣，精度高等特點，幾乎適用于所有類型的眼鏡鏡片或其他類似產(chǎn)品，如單焦點，散光，多焦點和各種環(huán)狀離焦型及多點離焦型近視防控鏡片。

SUPER MAPPER （SMC）超級地形圖儀基于Rotlex專有的摩爾偏折技術，利用波前透射方式獲得整個測量區(qū)域內多達約兩百萬個點的屈光度，從而得到鏡片的各種屈光細節(jié)。 SMC具有測量動態(tài)范圍廣，精度高等特點，幾乎適用于所有類型的眼鏡鏡片或其他類似產(chǎn)品，如單焦點，散光，多焦點和各種環(huán)狀離焦型及多點離焦型近視防控鏡片。

FFV鏡片光學分析儀是一款高精度的鏡片屈光度地形圖測量設備，除了擁有Mapper（FFA）的所有特點外，F(xiàn)FV還*自由曲面模擬和比較模塊，特別適用于自由曲面加工業(yè)。

Mapper（FFA）鏡片光學分析儀是FFV的簡化版，是一款高精度的鏡片屈光度地形圖測量設備，結合了摩爾條紋干涉和雙光柵LAU效應的測量光路更加簡潔耐用，是行業(yè)內*的測量設備。

Class-Plus鏡片光學分析儀（旗艦版）是一款革命性的眼鏡片檢驗設備，于鏡片工廠和實驗室檢查整個鏡片的光學分布情況，使用了專有的莫爾條紋干涉技術，具有速度快，精度高，數(shù)據(jù)多的特點。